ecu测试系统设计的过程分析

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SAE预测，到2010年，汽车中的电子设备平均将占到总价格的 40%!以美元为单位，2008年独立半导体器件的销售额约为200亿(源自Databeans公司的市场调查)。这一数字因为众所周知的原因在2009年将有所下降，但这是暂时性的，因为汽车里面已经再也不能没有电子设备了。喷射系统，燃油控制，导航，安全系统全部在由电子设备控制。
所以，作为测试工程师，我们该如何处理下一代汽车电子控制单元(ElectronicControl Unit，ECU)装配之前的复杂测试呢?什么样的测试系统——我要强调的是“系统”，没有任何单一的ATE平台能够完成所有的测试工作——是最合适的。在这篇短文中，我将努力使您更加了解各种应用与测试策略。至少我希望帮助您理清思路，这样您可以更加准确地向系统集成商和/或ATE供应商提问，并帮助您作出正确的选择
产品开发
　　当然，所有新设计的产品在发布之前都要经过验证与测试。在实验室测试策略中HILs(Hardware In the Loop)越发显得重要。一般来讲，这是主要用于测试ECU在遇到外部故障情况时的响应，一般故障包括：丢失信号，短路到地或Vbat，或是错误数据。在 ATE行业中通常选择故障注入开关系统(Fault Insertions switching system)实现这种测试。有几家公司提供我上面提到的故障生成/注入的硬件设备。因为在汽车中ECU的安全性至关重要，所以高水平的此类测试也同样非常重要。
　　过程测试
　　在装配和品质测试的过程中，汽车工业在引进新技术方面显得有些保守。根据INEMI(International Electronics Manufacturing Initiative )的报告，汽车工业在引进小尺寸封装的PCB方面落后于其它行业。主要的影响因素是使用环境——温度范围 -40~+250摄氏度(尾气传感器的工作温度可达580摄氏度)，多G的震动都要求其结构设计标准要远高于一般行业，如家用电脑。原器件密度也同样比其它消费产品低很多。另外，在未来一段时间内，汽车上的大部分时钟也不会超过150MHz，测试点仍旧是在机械和电气上可触及的形式。这些信息表明ICT测试(In-circuit testing在线测试)在未来几年内仍将在装配线上占据重要位置。
　　AOI(Automated Optical Inspection自动光学检查)也很重要。对于电气连接受限的ECU，AOI是最经济的加工测试方法。由于汽车ECU通常包含很多大功率——同时也是大尺寸的——器件如继电器、线圈等，所以光学检测时相机的高度和对ECU上大小器件同时对焦的能力非常重要。
　　出于质保和可靠性的考虑，在汽车工业中也非常看重把AXI(Automatic X-Ray Inspection自动X射线检测)做为测试策略的一部分。因为BGA封装的器件引脚数很多，所以验证所有引脚都焊接牢固非常重要，特别是对于那些涉及到安全性的ECU：如ABS防抱死系统、安全气囊控制器、主动式安全系统和线传控制(X by Wire)等。因为汽车的转向和刹车(即将实现)全电子控制，所以在不远的将来，这些测试将至关重要。
    因为光学检查看不到BGA芯片底下的部分，而且事实上不是所有的I/O都有引出端，所以AXI在测试策略中的重要性日益提高。尽管受到2008和2009经济衰退的影响，全世界年均新购的汽车数量仍高达5千万辆。　　

jianbing

两个字，不懂！

小菜鸟

我也看不懂，什么东东

songmy

ecu 就是行车电脑，大家可以去度娘一下